光学测厚仪原理;光学膜厚仪原理解析
关于九游会ag官方网站|(官网)点击登录 / 2023-11-02
什么是光学测厚仪 光学测厚仪是一种利用光学原理测量物体厚度的仪器。它可以通过测量光线在物体表面反射和透射的光程差,从而确定物体的厚度。光学测厚仪具有测量范围广、精度高、测量速度快等优点,被广泛应用于金属材料、塑料、陶瓷等材料的厚度测量。 光学测厚仪的工作原理 光学测厚仪的工作原理基于光程差原理。当光线从空气或真空中射入物体表面时,一部分光线被反射回来,另一部分光线穿过物体后被反射回来。这两部分光线的光程差正好等于光线在物体中传播的距离差。通过测量这个光程差,可以计算出物体的厚度。 光学测厚仪的